这种双束系统的结合，极大地提高了样品加工的精度和效率，为微观结构的研究和分析提供了更为强大的工具。但它的优点在于，试片在 TEM观察后，若有任何需要局部修整的厚度问题，可以反复进出 FIB 进行再加工，从而…
