ICT半导体集成电路测试有限公司取得确定带电粒子束的像差的方法以及带电粒子束系统专利

科技2025-02-21阅读 69+

金融界2025年2月21日消息，国家知识产权局信息显示，ICT半导体集成电路测试有限公司取得一项名为“确定带电粒子束的像差的方法，以及带电粒子束系统”的专利，授权公告号 CN 118043931 B，申请日期为 2022年8月。

本站所有文章、数据、图片均来自互联网，一切版权均归源网站或源作者所有。文内含有的对外跳转链接（包括不限于超链接、二维码、口令等形式），用于传递更多信息，结果仅供参考，今日霍州所有文章均包含本声明。