UltraTran是一款集成了多种光电测试功能的仪器设备，专门针对半导体材料和器件的电学与光电特性进行精确测量，尤其适用于发光（OLED、PeLED等）与光伏器件（OPV、晶硅PV、异质结叠层PV等），该设备核心功能包括：
1）斜坡电压电流测试（Ramp-IV）、阶梯电压电流测试（Step- IV）和脉冲电压电流测试（Pulse-IV）。这些测试模式使得用户能够以不同的电学激励方式对样品进行扫描，从而获得关于样品在不同激励下的电学性质。Ramp-IV以连续的方式提供电压扫描，适用于捕捉材料响应的连贯变化；Step-IV则以逐步阶梯的方式提供电压，适合观察材料在不同电压阶跃下的稳态行为；而Pulse-IV通过短时的电压脉冲，允许研究器件的动力学IV特性，也可以有效减少器件的热阻，增加器件的最大注入电流。
2）UltraTran还提供了开关瞬态光电流（on-off TPC）和开关瞬态光电压（on-off TPV）测试，这些功能适合于研究材料在光照激发下的上升和下降过程【瞬态光电流/光电压/光电荷测试参考我司TranPVC产品】。
3）暗注入瞬态特性测试（DIT）和深能级瞬态谱（DLTS）是可以用于探测和分析半导体中的陷阱和缺陷状态。DLTS技术尤为擅长于识别和量化材料中的微小缺陷浓度，为改善半导体材料质量提供关键信息。
4）设备还支持暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）和光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV），这两种模式能够测定电荷在半导体内的传输和复合机制，得到迁移率等参数。
5）等效电荷抽取测试（CE），可以研究器件的电荷浓度。
6）阻抗谱测试（IS）、电容电压测试（CV）等功能则为设备增加了额外的维度，使其能够全面评估材料的阻抗和介电性能。
7）强度调制光电流谱（IMPS）和强度调制光电压谱（IMVS）为研究者提供了一种独特的方法来探究材料对光强变化的频率响应，这对于光伏材料和应用尤为重要。
8）电致发射谱（ELS）为研究材料的电致发光特性，得到光谱、色坐标等参数。
UltraTran提供全面的半导体材料与器件表征功能，其核心测试功能涵盖：
基本电学特性： I-V特性测试、脉冲电压测试、阻抗谱（IS）。
瞬态与动态分析： ON/OFF TPV/TPC测试、电荷抽取测试（CE）、线性增压载流子测试（CELIV）、瞬态电致发光测试（TranEL）、深能级瞬态光谱（DLTS）。
调制光谱技术： 强度调制光电流谱/光电压谱（IMPS/IMPV）、调制电致发光光谱（MES）。
UltraTran应用范围广泛，主要面向以下领域：
半导体材料与器件：
材料类型： 有机半导体、金属-有机框架（MOF）、共价有机框架（COF）、钙钛矿材料、二维材料、元素半导体（如Si、Ge）、化合物半导体（如InGaAs）、第三代宽带隙半导体、量子点半导体、其他半导体材料。
器件类型： 光伏材料器件、发光材料器件、光催化材料器件。
核心研究领域： 上述各类半导体材料及其对应的光电器件（光伏器件、发光器件、光催化器件）的性能测试与机理分析。
