扫描透射电子显微镜🔬（STEM）是一种融合了透射电子显微镜🔬（TEM）和扫描电子显微镜🔬（SEM）部分特点的先进显微技术。它借助电子束在样品表面进行扫描，利用电子穿透样品来实现成像。该技术对操作环境和设备要求较高，需要维持极高真空度，其电子学系统也比TEM和SEM更为复杂，这使得STEM在硬件配置和操作维护方面都面临一定挑战，但同时也为其提供了独特的性能优势。
扫描透射电镜的原理
扫描透射电子显微镜🔬通过高能电子束与样品相互作用来获取材料微观结构信息。其核心是电子光学系统，利用电磁透镜将电子束聚焦至纳米甚至原子尺度，对样品表面进行扫描。当电子束穿透样品时，会与样品中的原子产生多种相互作用，产生透射电子、散射电子、特征X射线🩻等信号，这些信号被探测器接收并转化为图像或光谱信息，从而揭示样品的微观结构和化学成分。
不同扫描透射电子显微镜🔬（STEM）探测器的相对位置
扫描透射电子显微镜🔬（STEM）像的成像原理
扫描透射电子显微镜🔬（STEM）像的成像原理:相干成像与非相干成像
