介电温谱仪的核心作用，顾名思义，就是测量材料的介电性能（主要是介电常数和介电损耗）随温度变化的规律。可以把它想象成一个给材料做“温度应激反应”实验的设备：它一边给样品加热或降温，一边持续地、高精度地测量其介电性质。
同步测量介电响应：
介电常数 (εᵣ 或 ε')：衡量材料在外电场作用下被极化的能力，即储存电能的能力。它反映了材料对电场的响应强度。
介电损耗 (tanδ 或 ε'')：衡量材料在极化过程中将部分电能转化为热能而耗散掉的程度。损耗越低，通常意味着材料绝缘性能越好。
输出介电温谱：仪器最终会得到两条核心曲线：介电常数-温度曲线 (εᵣ - T)、介电损耗-温度曲线 (tanδ - T)
介电温谱仪分为高温介电温谱仪和高低温介电温谱仪。
高温介电温谱仪：Huace-450P运用平行板法设计原理测量。温度范围为室温~600 °C / 800 °C / 1000 °C / 1200 °C / 1450 °C（根据需求定制），重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。设备可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。搭配基于Labview系统开发的Huacepro软件，具备自定义测试功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。在过压、过电流、超温等异常情况下以保证测试过程的安全；当遇到电脑异常或瞬时断电时可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。
产品优势：
01.多功能红外反射炉，可实现高温、真空、气氛等环境下电学测试；
02.采用铂金材料作为测量导线，以减少信号衰减，提高测试精度；
03.近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，实现精准测量；
04.10寸『触摸屏』设计，机械结构一体化设计，更加稳定、可靠；
05.采用品牌高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高；
06.99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具。
产品参数：
温度范围：RT~ 600 °C / 800 °C / 1000 °C / 1200 °C / 1450 °C；
控温精度：±0.25 ℃；控温方式：连续升温和分段升温；
升降温斜率：1 ~ 10 ℃/min（可控）；
测量方式：4 线测量；频率范围：20 Hz ~ 5 MHz，精度：0.05%；
高温介电温谱仪
高低温介电温谱仪：Huace650T介电谱分析仪在可配合阻抗分析仪、高阻计、电化学工作站、数字原表设备进行功能材料电学的相关测试，采用直接联接测试仪表以减少测试导线的影响，同时电极加热采用直流电极加热方式，减少电网谐波对测量仪表的干扰。同时测试功能上也增加了电阻测试、TSDC等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量！
Huace650T也可搭配显微镜🔬/光谱仪使用。其可在 -185℃ ~ 600 °C / 800 °C / 1000 °C / 1200 °C / 1450 °C 范围内控温，同时允许进行电学测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个气密腔，可往内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。也可搭配阻抗分析仪、高阻计、源表等进行相关电参数测量。使用时还可对样品气氛进行控制。这样既可以保证，即使在很低温度下，腔体也不产生结霜影响实验，又可以防止样品发生氧化。此款温控探针台通过杠杆式支架（可根据用户测量要求定制专用电极），相比传统的直针探针，这种设计不仅点针更准确，而且点针力度更大，和样品的电接触性更好。
产品参数：
温度范围： -185℃ ~ 600 °C / 800 °C / 1000 °C / 1200 °C / 1450 °C ；
控温精度：±0.25 ℃；加热方式：直流电极加热；冷却方式：水冷；
升降温斜率：1 ~ 10 ℃/min（可控）；
样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm；
频率范围：20 Hz ~ 30 MHz，精度：0.05%；
模式选择：根据等效电路可选择并联模式和串联模式；
测量方式：软件可进行介电温谱与介电频谱；
温度设置：可设置升温速度、降温速度、最大温度、测量等待时间等；
数据处理：测量数据生成Excel及pdf两种文件格式；
测量参数：ε介电常数、（ε'、ε''介电常数实部与虚部）、C电容、(C’、C''电容实部与虚部、D损耗、R电阻、(R'、R''电阻实部与虚部）、Z、（Z'、Z''阻抗实部与虚部）、Y导纳、Y’、Y'（' 导纳实部与虚部）、X电抗、Q品质因 数 、 c o l e -cole图谱、机电耦合系数Kp等。
高低温介电温谱仪
