透射电子显微镜🔬(TEM)材料研究方法与经典案例展示—图文版(透射电子显微镜🔬和扫描电子显微镜🔬)

TEM测试是一种高分辨率的电子显微镜🔬技术，用于观察材料的微观结构和成分。TEM测试的目的可以有很多，常见的测试目的有以下几种情况：

1. 观察材料的晶体结构：TEM可以通过电子衍射技术观察材料的晶体结构，包括晶格常数、晶体取向和晶体缺陷等信息。
2. 分析材料的成分：TEM可以通过能谱分析技术（EDS）分析材料的成分、元素的种类和含量。
3. 研究材料的形貌和尺寸：TEM可以观察材料的形貌和尺寸，包括颗粒的形状、大小和分布等信息。
4. 研究材料的界面和界面反应：TEM可以观察材料的界面结构和界面反应，包括晶界、相界和界面反应产物等。