ONOSOKKI小野 CL-5610S 非接触式测厚仪CL-5610/CL-5610S 是一款非接触式测厚仪，可连接 VE 系列间隙检测器传感器，测量导体、半导体和绝缘体的厚度。最多可连接两个 VE 系列传感器。它也可用作双通道间隙测量仪。
CL-5610内置传感器放大器，VE传感器直接连接到测厚仪。适用于台式离线测量（传感器与主机之间的电缆长1.5米，不可延长）。
CL-5610S 采用外部独立传感器放大器，将 VE 传感器与测厚仪主机分离。主机与外部放大器之间的连接线长度标准为 2.5 米，但可选配延长线，最长可达 10 米。这适用于将传感器与测厚仪主机分开安装，例如将其集成到设备中时。特征
测量项目范围广泛
它可以测量厚度和间隙。它还可以显示每个值的偏差值、最大值、最小值和最大宽度值（最大值 - 最小值）。
除了导体和半导体之外，还可以测量绝缘体的厚度。
CL-0300 绝缘体测量功能（可选）使您能够测量薄塑料薄膜和玻璃板等绝缘体的厚度。
即使对于未完全实现导电性的样品也能进行稳定的厚度测量
将样品放置在涂有氟基薄膜的台面上时，很难确保样品与主体（通常情况下）之间的导通性。以往，需要通过大面积接触样品来确保稳定性，而CL-0210的高阻抗接地模式功能（选配）可以减少接触面积。此外，在相同面积下，可以确保更高的稳定性。
高分辨率计算功能选件（CL-0200）可实现最小显示分辨率0.02μm *1
*1 使用 VE-2011/VE-5010/VE-5011 时。对于 VE-5010/VE-5011，当使用 CL-0201 测量范围变更选件将测量范围变更为 20 至 200 μm 时适用。
最多可保存六个传感器校准值
CL-5610系列可以存储最多六个传感器的校准信息，让您可以选择和使用最适合您的测量范围和分辨率的传感器。
数据可以连续导入PLC或PC
数据输出类型有三种：模拟电压输出、BCD 输出和 RS-232C。您可以选择最适合您记录设备的输出。模拟输出和 BCD 输出可以 20 ms 的数据更新间隔提取数据。通过移动样品进行测量，您还可以测量连续的厚度值，这对于检测板材的厚度变化至关重要。
*模拟输出需要输出功能选项（CL-0110），BCD 输出需要 BCD 输出功能选项（CL-0120）。
该设备可以由外部控制。
在生产线或检测线上进行自动测量时，需要从外部控制仪器。CL-5610标配触点控制端子和RS-232C端子，因此可以通过PLC或PC轻松控制。
比较器功能（安装CL-0110输出功能选件时）可用于在线监测异常值。
测量样品示例 导体和半导体
绝缘子硅片、钢板、铝板、硬盘、印刷电路板、其他金属板等要求清洁、较软、镜面、易刮伤的物品。玻璃、聚乙烯、聚丙烯和其他塑料。
（测量由特性均匀的单一材料制成的薄物体。）
*除上述测量样品外，对于中间材料和复合材料的测量也请联系我们。
