亿瑞芯电子申请测试向量生成方法等专利，获取『芯片』功能测试指令并解析

金融界2025年6月28日消息，国家知识产权局信息显示，上海亿瑞芯电子科技有限公司申请一项名为“一种测试向量生成方法、系统及计算机可读存储介质”的专利，公开号CN120214547A，申请日期为2025年05月。

专利摘要显示，本发明提供的一种测试向量生成方法，包括：获取『芯片』功能测试指令，并解析出功能测试指令包含的任务内容以及任务输入参数；基于所述任务内容选择相应的指令模板，调用所述指令模板，赋值指令寄存器数值，并依据任务输入参数中对应的地址参数和写入/读取数据，得到TDI数据序列以及TDO数据；所述指令模板基于jtag协议、ADI协议以及『芯片』测试电路的数据传输协议创建得到，所述指令模板关联jtag测试驱动函数；依据指令寄存器数值、TDI序列以及TDO数据调用所述jtag测试驱动函数，将功能测试指令内容输出为TDI数据、TCK信号、TMS信号及TDO信号在不同时刻下的组合，本发明还提供了一种测试向量生成系统及计算机可读存储介质。

天眼查资料显示，上海亿瑞芯电子科技有限公司，成立于2022年，位于上海市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，上海亿瑞芯电子科技有限公司共对外投资了1家企业，专利信息2条，此外企业还拥有行政许可3个。