多芯片 “拼” 出高性能,热管理与 “健康监测” 成关键

多芯片 “拼” 出高性能,热管理与 “健康监测” 成关键

芝能智芯出品

在从传统SoC架构向多芯片组件 (MCM)演进的过程中,芯片内部对性能、能效与可靠性的要求变得前所未有地复杂。

分布式智能控制、热管理、实时监控与可测试性成为推动这一结构转型的核心技术要素。

先进封装所带来的物理互联复杂性、跨IP集成不确定性,以及长期稳定运行的需求,推动了一个更智能、更具弹性的芯片系统时代的到来。

Part 1

智能控制

在多芯片封装中的分布与机理

在平面SoC中,芯片的行为和性能通常可以由单一的中央处理器或MCU集中控制和管理。而当逻辑被分割为多个小芯片,并通过硅通孔 (TSV)、混合键合或传统铜互联在封装内连接时,数据路径的变化增加了不可预测性。

此时,片上控制逻辑必须走向分布式化,每一个小芯片都可能内嵌微控制器或处理单元,以实现本地判断与执行。

技术实现上,许多高性能接口如PCIe Gen 7、DDR5/6以及224Gbps以太网PHY中,均已内置微处理器,负责物理层的参数自适应、信道诊断与在线校准。这些微控制器还能接收固件更新,从而动态优化性能或适配新的工作条件。

系统的运行不再仅依赖中央软件栈的指令,而是通过“软硬一体”的方式,以更细粒度控制器分散在封装不同位置。这种结构让系统具备更强的容错性与适应性。

例如,在AI芯片中,面对不同的工作负载热分布与运算瓶颈,各芯片内部的控制逻辑可以动态调整频率、电压或路径,以避免性能下降或触发过热。

这种智能控制的本质,是让芯片能够感知环境与自我行为,并作出响应,而不是静态执行。

工程上,这需要大量传感器网络铺设在芯片之间和内部,包括电压、温度、延迟监控节点,以及与系统寄存器相连的状态反馈机制。

智能控制还体现在数据路径管理方面。面对跨芯片连接中的 延迟不对称、带宽波动等问题,芯片间的互联控制单元可以重定向数据流,以维持系统吞吐与数据完整性。这种“边运行边修正”的模式成为实现长期稳定运行的关键保障。

分布式微控制器、封装内状态感知网络与可动态调度的数据路径控制,是智能控制系统在多芯片封装中的核心支撑结构。它让系统从传统的中心化控制转向边缘自治,提升了弹性与可持续性能。

Part 2

热管理与可测试性:

多芯片系统运行稳定性的关键保障

随着逻辑密度和利用率的提升,热管理成为多芯片系统设计的一个重要瓶颈。封装内芯粒彼此紧密排列,计算芯片、HBM高带宽存储以及共封装光模块协同存在,对局部热堆积带来了更高要求。

热问题并非均质化,其复杂性来自负载分布、封装形状、芯粒堆叠方式的差异。在一些3nm/2nm节点的芯粒中,即便逻辑功耗降低,但HBM或SerDes部分的动态功率密度依然极高,散热不均会引起热失配,最终导致时钟漂移或失效。

为应对这一挑战,多芯片系统中通常嵌入大量热传感器,并利用封装级热仿真模型进行动态热映射。局部热热点一旦被检测到,内部控制单元可以动态限频、关核或重构任务调度路径,以避免器件退化。

另一方面,在多芯片系统中实现高效的可测试性仍是工程难题。组装前后如发现某颗芯粒存在缺陷,可能导致整个系统封装报废,经济损失巨大。

为了避免这一问题,当前业界在晶圆分选阶段已引入更复杂的测试方法,包括DFT (Design-for-Test)优化、内建自测试 (BiST)等,提升前期良率。

传统BiST在数据中心等始终在线系统中的适用性受限。BiST通常需要暂停工作电路,而这一机制在AI训练芯片上难以接受。因此,更先进的可测试方案采用在线监控与硬件异常检测单元结合,实现非侵入式测试。

例如,部分芯片中部署有行为分析引擎,可在运行过程中实时记录关键统计数据,并在触发条件下发出主动告警。除了测试,还需考虑诊断能力。相比于SoC中的测试端口,多芯片封装由于结构复杂性,增加了“未发现故障”的风险。

因而,需要构建任务级数据模型、借助数字孪生或AI分析引擎对芯粒级行为进行推演与预测。这一趋势正驱动EDA与芯片设计的深度融合。热管理与可测试性的本质,是对整个系统运行状态的实时感知与应急控制能力。

借助热监控、异常检测、BiST与AI辅助诊断工具,多芯片系统在结构复杂性急剧提升的背景下,仍可维持长期的运行可靠性。

多芯片组件的技术演进,不仅改变了芯片设计的基本方式,也迫使芯片设计公司、EDA供应商、服务器与汽车系统厂商,重新思考系统智能的边界。

未来,芯片的定义将不再是一个单体器件,而是一个内含传感、判断、执行、通信能力的智能体群落。这些智能封装具备自组织、自恢复、自学习的基础机制。

要实现这一能力,标准化互联协议如UCIe、安全启动逻辑、芯粒身份验证机制、动态功率管理策略等都是不可或缺的配套。

小结

从产业角度看,芯粒化带来了更好的工艺复用性、更高的良率控制能力和系统定制化灵活性;但同时,也提升了封装内系统协同、状态预测和可靠性验证的复杂度。

只有在系统设计初期就纳入全生命周期的监控与控制策略,才能真正发挥小芯片架构的优势。多芯片封装已经不再是简单的“拼接”,而是面向未来AI、车规、边缘计算系统的一种“系统内系统”结构。

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