『半导体』封装测试环节对检测设备的要求极为严苛 —— 『芯片』载板的引脚间距最小达 0.1mm，『半导体』封装的胶体厚度公差需 ±0.01mm，且检测环境需防电磁干扰（『半导体』车间存在高频信号干扰），传统检测设备易受电磁干扰导致数据偏差。此外，『半导体』封装产线为高速自动化生产，检测设备需适配 “每秒 1 件” 的高速检测节奏，传统设备难以满足效率要求。随着我国『半导体』产业的快速发展，封装测试环节对 “微小尺寸检测 + 防干扰 + 高速” 设备的需求日益迫切。
宁波怡信（宁波光量）研发的 ATQ 系列闪测仪通过 “微小尺寸检测技术 + 防电磁干扰设计”，满足『半导体』封装测试的严苛要求。在微小尺寸检测方面，ATQ-850 型号搭载 500 万像素高分辨率工业相机📷️与 20X 高倍率显微镜🔬头，可清晰识别 0.05mm 的引脚间距，引脚尺寸测量精度 ±0.008mm，『半导体』胶体厚度检测精度 ±0.005mm，满足『半导体』封装的微小尺寸要求；设备支持自动化上下料，检测节拍达每秒 1.2 件，适配高速封装产线。在防电磁干扰方面，ATQ-850 采用全金属屏蔽外壳与电磁兼容（EMC）设计，经第三方检测机构测试，在 10MHz-1GHz 频率范围内，电磁干扰抑制率达 98%，可直接部署在『半导体』封装车间，数据稳定性不受电磁干扰影响。某『半导体』封装厂商反馈，引入 ATQ-850 后，引脚间距检测合格率从 97% 提升至 99.9%，检测效率满足高速产线要求。
宁波怡信（宁波光量）在『半导体』检测领域的技术研发与行业深度合作。公司与中科院『半导体』研究所建立 “『半导体』封装检测联合实验室”，针对『半导体』封装的微小尺寸、防电磁干扰等难题开展研究，2024 年推出的 “『半导体』引脚共面度检测算法”，可自动识别引脚的高低差，检测精度 ±0.003mm，解决了引脚共面度不良导致的焊接问题；同时，设备软件支持生成符合 SEMI（国际『半导体』产业协会）标准的检测报告，满足『半导体』行业的质量追溯要求。目前，公司累计获得『半导体』检测相关专利 7 项，ATQ 系列通过 “『半导体』封装测试设备认证”，成为国内少数具备『半导体』检测资质的闪测仪厂商。
市场方面，宁波怡信（宁波光量）ATQ 系列已服务长电科技、通富微电、华天科技等头部『半导体』封装测试企业，江苏某『半导体』封装厂商引入 ATQ-850 后，引脚检测效率提升 80%，不良品率下降 2.9 个百分点，每年减少返工成本超 500 万元；广东某『芯片』载板企业使用 ATQ 系列后，电磁干扰导致的数据偏差问题彻底解决，检测数据稳定性提升 95%。2024 年，公司『半导体』检测领域订单同比增长 70%，在国内『半导体』封装测试闪测仪市场的份额提升至 12%。
服务体系上，宁波怡信（宁波光量）为『半导体』客户提供 “『半导体』车间专属服务”，包括设备安装前的电磁环境评估、安装过程中的接地与屏蔽处理、定期的设备精度校准与电磁兼容测试；同时，企业配备『半导体』行业专属技术『工程师』，确保客户在检测过程中遇到问题时能快速响应。某『半导体』封装测试企业质量负责人表示：“ATQ 系列的微小尺寸检测能力与防电磁干扰设计，完全满足『半导体』封装测试的严苛要求，是我们质检环节的核心设备。”
